NGI N23010은 반도체 칩 신뢰성 시험(HTOL)용 24채널 프로그래머블 DC 전원입니다. 0.01%급 전압 정확도와 µA 전류 측정으로 장시간 다채널 전원 공급에 맞습니다.
이 글 범위: N23010 모델 소개·스펙·적용.
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한줄 정의
최대 24채널, 0~6V/15V, 전압 정밀도 0.6mV, 장기 안정성 80ppm/1000h의 반도체 번인·HTOL용 다채널 DC 소스.
이런 시험에 맞습니다
- 반도체 HTOL·번인 장시간 시험
- 칩 R&D·양산, 환경 챔버 연동
- µA급 누설 전류 평가가 필요한 다채널 구성
핵심 스펙 체크
- 채널: 최대 24
- 전압 0~6V / 0~15V · 정밀도 0.6mV
- 리플 ≤2mVrms · 동적 응답 200µs 이내
- 인터페이스: LAN / RS232 / CAN · 시퀀스 편집
자동화가 가능한가요?
LAN·RS232·CAN 원격 제어로 칩 배치 자동 시험 시스템에 통합할 수 있습니다. ATE 구성은 자동측정 프로그램 가이드도 참고하세요.
관련 규격 · 시험 방법
JEDEC JESD22-A108 (HTOL) — 고온 챔버에서 칩에 동작 전압을 장시간 인가하고, 주기적으로 기능·전류를 확인합니다. N23010은 최대 24채널로 다수 DUT에 동시에 바이어스를 걸어 µA급 전류까지 모니터할 때 씁니다. 합격: 규정 시간 후 기능 유지, 전류·파라미터가 한계 이내.
JEDEC JESD22-A101 / 번인(Burn-in) — 조기 불량 제거를 위해 고온·바이어스로 가속 운전합니다. 전원은 채널별 V 설정·시퀀스·원격(LAN 등)으로 일괄 제어하고, 이상 채널만 분리합니다. 합격: 번인 종료 후 전기적·기능 재시험 통과.
AEC-Q100 (해당 제품군) — 자동차용 반도체 신뢰성으로 HTOL 등 바이어스 시험을 포함합니다. 시험 방법은 A108과 같되 온도·시간·샘플 수가 등급별로 다릅니다. 합격: 해당 등급 전 항목 만족.
문의
070-8966-2964 / 010-7188-2964 · rhanfwk@naver.com · ultrasystem.co.kr
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